Вы здесь

Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis

Обложка: 
Свед.отн. к заглавию: 
Third Edition. CD-ROM
Год выпуска: 
2003
Издательство: 
Springer

Данный диск имеет установочный файл.
Вы можете взять этот диск в отделе Организации и хранения электронных ресурсов (Зал элекронных ресурсов НБ, 3 этаж, 304 каб.)

Яндекс.Метрика
000